UN SERVICE

Techik est spécialisé dans la fabrication de détecteurs de métaux, de chèques de contrôle, du système d'inspection des rayons X et de la trieuse de couleur. Jusqu'à présent, Techik compte plus de 25 succursales en Chine et plus de 50 partenaires sur le marché d'outre-mer. Outre les supporters locaux, le manuel d'utilisation détaillé et la vidéo de fonctionnement, la prise en charge en ligne en ligne, le réglage de paramètres à distance et le débogage, ainsi que la formation des clients réguliers sont proposés aux clients Techik chaque fois que des problèmes sont confrontés. 



Service Techik:

1. Service en ligne 24-7

2. Livraison rapide: 17 jours ouvrables après la production

3. QC interne strict pour assurer la qualité

4. Haute rentable

5. Formation complète de l'opération de la machine


Rejeter de détecteur de nourriture pour l'inspection des rayons X sur métal et alimentaire

Le détecteur Techik Metal est largement utilisé pour la détection des contaminants métalliques, y compris des métaux ferreux (Fe), des métaux non ferreux (cuivre, aluminium, etc.) et en acier inoxydable. Des aliments emballés ou non emballés, le détecteur de métaux peut détecter et rejeter efficacement les contaminants métalliques.


Le système d'inspection des rayons X Techik tire parti de la puissance pénétrante de la radiographie pour détecter la contamination comprenant des contaminants métalliques et non métalliques tels que le verre, la céramique, la pierre, les os, le caoutchouc dur, le plastique dur, etc. Système d'inspection Techik X-Ray Peut être utilisé pour inspection d'emballages métalliques et non métalliques et de produits en conserve.


Série de redevances

  1. 1. Type de flipper

  2. 2. Type de jet d'air

3. Type de poussée

4. Type de bande de rétraction pneumatique

5. Rejecteur poussoir lourd

6. Rejecteur d'abandon

7. Rejecteur de rabat



Plate-forme de trieur de couleurs

Le système de tri optique est un dispositif permettant de trier automatiquement le matériau défectueux en utilisant la technologie de détection optoélectronique en fonction de la différence des caractéristiques optiques des matériaux.

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