Equipo de inspección de rayos X de comida

Equipo de inspección de rayos X de comida

El equipo de inspección de rayos X de alimentos requiere ventajas de la potencia penetrante de la radiografía para detectar la contaminación. Puede lograr una gama completa de inspección de contaminantes, incluidos contaminantes metálicos, no metálicos (vidrio, cerámica, piedra, hueso, caucho duro, plástico duro, etc.). Puede inspeccionar envases metálicos, no metálicos y productos enlatados, y el resultado de la inspección no se verá afectado por la temperatura, la humedad, el contenido de sal, etc.


Uso recomendado de los sistemas de inspección de rayos X

1. No solo contaminantes de metal, sino otros no metales, como piedras, cerámica, vidrio también.

2. Película de aluminio envasada alimentos y alimentos envasados ​​metálicos.

3. Alta comida de salinidad, como pepinillos que tiene un fuerte efecto de producto.

4. Alimentos enlatados

5. Altos requisitos para la inspección de sus.

6. Detección de defectos, como el defecto de la tableta.


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Ventajas principales
Sistema de inspección estándar de rayos X

Plataforma de tima

Alta sensibilidad y precisión.

Bajo consumo de energía y baja radiación.

Plataforma de hardware modularizada

Diseño higiénico de alto nivel.

Excelente algoritmo de procesamiento de imágenes       

Detector de alta resolución

4-5 veces mejor en la exposición en comparación con el detector estándar de 0.4 mm

Con detector de alta resolución, se requiere un generador de baja potencia, mayor sensibilidad, tiempo de servicio más largo, bajo costo de radiación y mantenimiento.      

Alto nivel de protección de propiedad intelectual

Detector de rayos X: IP67

TÚNEL DE INSPECCIÓN: IP67

IP69K para productos de carne y mariscos      

Software actualizado

Software inteligente para plástico, cáscara, etc.

Función de aprendizaje automático

Marco remoto      

Fácil de usar

Gran pantalla táctil

Idioma múltiple

Interfaz de monitoreo automático

Ethernet y puerto USB      

Solución completada

Diferentes configuraciones basadas en diferentes solicitudes.

Varios sistemas de rechecho

      
Parámetros
Sistema de inspección estándar de rayos X




Dimensiones externas
Sistema de inspección estándar de rayos X

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