X-ray système d'inspection

X-ray système d'inspection

Le système d'inspection des rayons X prend des avantages de la puissance pénétrante de la radiographie pour détecter la contamination. Il peut atteindre une gamme complète d'inspection des contaminants, notamment des contaminants métalliques et non métalliques (verre, céramique, pierre, os, caoutchouc dur, plastique dur, etc.). Il peut inspecter métallique, emballage non métalliques et des produits en conserve, et le résultat de l'inspection ne sera pas affectée par la température, l'humidité, la teneur en sel, etc.


Utilisation recommandée des systèmes d'inspection des rayons X

1. Non seulement les contaminants métalliques, mais d'autres non-métaux tels que des pierres, la céramique, le verre.

2. aliments emballés film d'aluminium et de la nourriture métallique emballé

3. Les aliments de salinité élevée, comme les cornichons qui a fort effet produit

4. Conserves

5. exigences élevées pour l'inspection des SUS

6. Détection des défauts, tels que les défauts de la tablette.

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Principaux avantages
Système d'inspection des rayons X
Tima Plateforme

Haute sensibilité et précision

Faible consommation d'énergie et rayonnement faible

Plate-forme matérielle modulée

Conception hygiénique de haut niveau

Excellent algorithme de traitement d'image  

      
Détecteur haute résolution

4-5 fois mieux en exposition par rapport au détecteur standard de 0,4 mm

Avec un détecteur haute résolution, une faible puissance génératrice est requise, une sensibilité plus élevée, une durée de service plus longue, un faible coût de rayonnement et de maintenance.      

Niveau de protection IP élevé

Détecteur de rayons X: IP67

Tunnel d'inspection: IP67

IP69K pour les produits de la viande et des fruits de mer

      
Logiciel mis à jour

Logiciel intelligent pour plastique, coque, etc.

Fonction d'auto-apprentissage

Télécommande       

Convivial

Grand écran tactile

Langue multiple

Interface de surveillance automatique

Port Ethernet et USB

      
Solution complétée

Configuration différente basée sur différentes demandes

Divers systèmes de reviseurs

      
Paramètre
Système d'inspection des rayons X


Dimensions extérieures
Système d'inspection des rayons X

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